Design for Test (DFT) är en uppsättning tekniker som används i elektronisk design för att säkerställa att tillverkade integrerade kretsar (ICs) enkelt och noggrant kan testas under produktionen för att identifiera eventuella fel eller fel. Det primära målet med DFT är att underlätta testprocessen, förbättra testtäckningen och minska tiden och kostnaden för testning.

Hur gör Indic det?

Vårt DFT-tillvägagångssätt börjar med integrationen av inbyggda testfunktioner direkt i designen. Detta inkluderar införlivande av testpunkter, åtkomst till kritiska noder och andra diagnostiska funktioner som förenklar testprocessen.

Vi använder skanningskedjetekniker för att förbättra testbarheten under tillverkningsprocessen. Detta innebär att konfigurera designen för att möjliggöra seriell testning av flip-flops, vilket ger effektiv feldetektering och diagnos.

Vi integrerar gränsskanningsteknik (Joint Test Action Group - JTAG) i designen. Detta möjliggör effektiv testning av sammankopplade enheter på kretskortet, vilket förenklar identifiering och isolering av fel.

Vår DFT-process inkluderar felsimulering och designvalidering, vilket säkerställer att potentiella problem identifieras och åtgärdas före tillverkningsfasen. Detta proaktiva tillvägagångssätt minimerar sannolikheten för defekter och förbättrar produktens övergripande tillförlitlighet.

Varför Indisk?

Vår historia av framgångsrika projekt visar vår expertis när det gäller att integrera testbarhet i designen, vilket leder till effektivare och tillförlitligare produkter.

Vi erbjuder omfattande testlösningar genom att integrera en mängd olika DFT-tekniker. Detta säkerställer att din produkt genomgår grundliga tester, vilket resulterar i en högre nivå av kvalitet och tillförlitlighet.

Våra DFT-tjänster bidrar till tids- och kostnadsbesparingar genom att effektivisera testprocessen. Genom att identifiera och ta itu med potentiella problem tidigt i designfasen minimerar vi behovet av omfattande tester under produktionen.

Vi använder ett samarbetssätt som involverar nära samarbete mellan design-, test- och tillverkningsteam. Detta säkerställer att DFT-överväganden integreras sömlöst, vilket leder till en mer effektiv och pålitlig produkt.

Funktioner
Våra förmågor
Styva kretskort
Upp till 24 lager
Panelstorlek upp till 21 ”x26"
Metallkärna eller metallstöd
Ett brett sortiment av laminat
Koppartjocklek - 8 oz. inre skikt/16 oz. yttre lager
Stela Flex-kretskort
24+ lager
Ett brett utbud av anpassade ytbehandlingar
Metallkärna eller metallstöd
UL-kvalificerad
Flexibla kretskort
Upp till 20 lager
Kortstorlek upp till 20" x 24"
Brättjocklek: 0,1 mm - 0,8 mm
Blinda och begravda vias
RoHS-kompatibel
Vanliga frågor

We need Design for Test to ensure products can be tested efficiently and thoroughly for quality and performance, reducing testing time and costs, improving product reliability, and facilitating early detection of defects.

Design for Test (DFT) is a concept that involves designing products in a way that makes them easier to test for defects and functionality. It integrates testability features into the product design to facilitate efficient and effective testing processes.

Designing a test involves first identifying its objectives and requirements, then selecting suitable methods and tools. It requires creating detailed test cases and procedures to cover all functionalities and failure modes, and integrating testing checkpoints into the product design for efficient access and evaluation.

Design for Testability (DFT) is the practice of designing products with features that make them easier to test for defects. It's important because it enhances the efficiency and effectiveness of testing processes, reduces testing costs, improves product quality, and accelerates time to market.

Prenumerera på vårt nyhetsbrev

Följ med oss för att hålla dig uppdaterad med våra senaste blogguppdateringar, tillverknings- och monteringstrender, nyheter och tillkännagivanden!
Tack! Din inlämning har mottagits!
Hoppsan! Något gick fel när du skickade in formuläret.