テスト用デザイン
Design for Test（DFT）は、製造された集積回路（IC）を製造中に簡単かつ徹底的にテストして欠陥や障害を特定できるようにするために、電子設計で使用される一連の手法です。DFT の主な目的は、テストプロセスの円滑化、テストカバレッジの向上、テストに関連する時間とコストの削減です。
当社のDFTアプローチは、組み込みのテスト機能を設計に直接統合することから始まります。これには、テストポイントの組み込み、クリティカルノードへのアクセス、およびテストプロセスを簡素化するその他の診断機能が含まれます。
製造プロセス中のテスト性を向上させるために、スキャンチェーン技術を採用しています。これには、フリップフロップのシリアルテストが可能になるように設計を構成し、故障の検出と診断を効率的に行うことが含まれます。
バウンダリー・スキャン（ジョイント・テスト・アクション・グループ-JTAG）テクノロジーを設計に組み込んでいます。これにより、PCB上の相互接続デバイスの効率的なテストが可能になり、障害の特定と切り分けが簡単になります。
当社のDFTプロセスには障害シミュレーションと設計検証が含まれており、製造段階の前に潜在的な問題を特定して対処します。この先を見越したアプローチにより、欠陥の可能性が最小限に抑えられ、製品全体の信頼性が向上します。
私たちのプロジェクトの成功の歴史は、テスタビリティを設計に統合し、より効率的で信頼性の高い製品へと導く当社の専門知識を示しています。
さまざまなDFT技術を統合することにより、包括的なテストソリューションを提供します。これにより、お客様の製品が徹底的なテストを受けることが保証され、より高いレベルの品質と信頼性が得られます。
当社のDFTサービスは、試験プロセスを合理化することにより、時間とコストの節約に貢献します。設計段階の早い段階で潜在的な問題を特定して対処することで、製造中の広範囲にわたるテストの必要性を最小限に抑えることができます。
私たちは、設計、テスト、製造チーム間の緊密な協力を伴う共同アプローチを採用しています。これにより、DFT の考慮事項がシームレスに統合され、より効率的で信頼性の高い製品が生まれます。
Design for Test (DFT) is a concept that involves designing products in a way that makes them easier to test for defects and functionality. It integrates testability features into the product design to facilitate efficient and effective testing processes.
We need Design for Test to ensure products can be tested efficiently and thoroughly for quality and performance, reducing testing time and costs, improving product reliability, and facilitating early detection of defects.
Designing a test involves first identifying its objectives and requirements, then selecting suitable methods and tools. It requires creating detailed test cases and procedures to cover all functionalities and failure modes, and integrating testing checkpoints into the product design for efficient access and evaluation.
Design for Testability (DFT) is the practice of designing products with features that make them easier to test for defects. It's important because it enhances the efficiency and effectiveness of testing processes, reduces testing costs, improves product quality, and accelerates time to market.
